Backplane/Chassis Test Solutions W 3504

W 3504 及 W 3525测试系统用于中尺寸至超大背板及轨道。

可管理多数量接点的测试，在极短时间内可测试高达 300,000测试点。

将测试点整合至可移动式daisy-chain cartridges避免复杂及出错之状况，达到高精确度

它也可以达到快速，自动接点及造成较高产量。

●测试&量测性能
最大电压40VDC (12-Bit 分辨率)
恒定电流1mA, 10mA, 或100mA
通路阀值可低至0.3 Ohms (± 2% ± 0.15 Ohms)
绝缘阀值可达10 MOhm (± 1%), 及 40 MOhms (± 3%)
电阻测试从0.3 Ohms 至 40 MOhms (± 3% ± 0.15 Ohms)
电容器测试从20 nF 至 40,000 µF (± 10% ± 10 nF)
二极管及稽纳二极管测试作开路，短路及反向插入
按键及开关器之测试

●硬件
外装模块有32, 128, 192 或 256测试点
使用PCI接口连接至PC (包含接口线)
可扩充至307,200测试点
选配的远程遥控接口作为驱动外部装置 (馈线及治具,等)

●尺寸 & 重量
19吋Rack-Mount 附轮机箱
21.7x19.7x23.6英吋 (W x D x H)
110 lbs

 ●快速测试速度并同时达到精准度
-透过单一晶体管达到快速测试 (单一点切换矩阵)
-透过减少测试点及待测物之间的复杂接线及接头，以达到高精准度

●在测试系统配置上有较多的变化
-多种测试点模块: 提供32，128，192，或256测试点
-选配附有测试点卡的扩充机台